產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
聯(lián)系人：朱經(jīng)理
手機(jī)：15921165535
電話：86-021-58951071
傳真：86-021-50473901
地址：上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號5號樓311室
郵箱：814294500@qq.com
產(chǎn)品中心
德國EPK*MiniTest7400測厚儀
- 更新時間：2019-12-23
- 瀏覽次數(shù)：805
德國EPK*MiniTest7400測厚儀德國EPK高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 創(chuàng)新的用戶界面概念結(jié)合便捷的數(shù)據(jù)管理，新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測量系統(tǒng)理想的解決方案。新概念的優(yōu)勢直觀的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機(jī)幫助，使用簡易。大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供的觀察效果，即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。
| 品牌 | ElektroPhysik/德國EPK | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
德國EPK*MiniTest7400測厚儀
鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器。
篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評價材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能，推動著精良制造技術(shù)的精益求精。
：
篤摯儀器（上海）有限公司
：張磊
：
：
公司地址：上海市浦東新區(qū)外高橋保稅區(qū)華京路418號
德國EPK*MiniTest7400測厚儀
德國EPK高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 創(chuàng)新的用戶界面概念結(jié)合便捷的數(shù)據(jù)管理，新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測量系統(tǒng)理想的解決方案。新概念的優(yōu)勢直觀的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機(jī)幫助，使用簡易。大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供的觀察效果，即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。配置管理幫助MiniTest 7400簡化了校準(zhǔn)及參數(shù)設(shè)置，無需專業(yè)技能，也可在短的時間內(nèi)完成困難測量任務(wù)。
良好的數(shù)據(jù)管理如PC一樣提供快速創(chuàng)建文件夾和易于設(shè)置批組。除了數(shù)字顯示讀數(shù)，層次清楚的顯示統(tǒng)計值和讀數(shù)包括趨勢圖和直方圖、過程能力指數(shù)”Cp”和“Cpk”以及組統(tǒng)計值。錯誤的讀數(shù)可以從批組中刪除以防止產(chǎn)生錯誤的統(tǒng)計值。 龐大的數(shù)據(jù)儲存器為必要的數(shù)據(jù)管理，可保存高達(dá)500批組的250,000個讀數(shù)。為滿足高精度測量的要求，7400探頭可達(dá)到5點校準(zhǔn)（包括零點）。
預(yù)設(shè)的校準(zhǔn)方法符合工業(yè)準(zhǔn)則和ISO 19840，SSPC，“瑞典”，“澳大利亞”的測量標(biāo)準(zhǔn)。 此外，延伸的特殊校準(zhǔn)方法也適用于粗糙表面的測量。 為了方便建立和評估測量值組和各種數(shù)據(jù)格式的輸出，標(biāo)準(zhǔn)配置包括計算機(jī)軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數(shù)據(jù)如文本、Excel®分析總表或PDF文檔，并允許筆記和注解條目。特點：測量樣品的圖片可以添加到數(shù)據(jù)報告中。 配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設(shè)備。
紅外接口(IrDA®1.0)可作為標(biāo)準(zhǔn)配置。一個多用接線盒可用來作為一個USB接口連接各種設(shè)備，如外借電源、耳機(jī)、腳踏開關(guān)或警報器。對于單個裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉(zhuǎn)換器。模擬信號處理時代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢。
SIDSP®明顯優(yōu)勢EPK此項探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理新技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。高精度，高重現(xiàn)性，對溫度變化不敏感，適應(yīng)性強(qiáng)，這些都是SIDSP®的主要特點。
篤摯儀器有限公司代理的德國epk MiniTest7400涂層測厚儀探頭的適應(yīng)性有色金屬的導(dǎo)電性可能會有所不同。對這些基體使用自動補(bǔ)償，基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能，可以測量多種導(dǎo)電性不同的有色金屬材料，無需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。所有的SIDSP®探頭充分地適應(yīng)測量各種幾何形狀的樣品?？梢詫Σ灰?guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時，整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。 探頭設(shè)計選擇不同的線纜插口類型更加靈活，來適應(yīng)測試要求。每個標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計，后者可以測量難以進(jìn)入的類似管和中空零件。 對由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供終保護(hù)，MiniTest 7400提供了一個特制的堅固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護(hù)探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。對于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。
