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產(chǎn)品中心
品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
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應用領域 | 化工,電子,印刷包裝,航天,汽車 |
泰勒原廠銷售Surtronic S-116小型粗糙度儀
Surtronic S116泰勒粗糙度儀是Surtronic S100 系列的標準產(chǎn)品,堅固耐用,性能*的表面粗糙度測量儀,因為體型小巧便于重量輕,所以方便攜帶。多樣化的系統(tǒng)和應用相關的配件,滿足您的特殊需求,大容量鋰聚合物電池, 一次充電后可進行至少2000次測量,充滿電后待機能力長達5000個小時。
Surtronic S-116小型粗糙度儀特點介紹:
一個50mm長的測針升降裝置和直角附件
360度任意旋轉,任何方向任何高度測量
輕觸快捷鍵即可進行所有關鍵設置。
迷你USB 2.0用于充電或連接電腦傳輸數(shù)據(jù)。
A類型USB 2.0可連接便攜式打印機或USB存儲設備。
防滑的V型腳架設計使系統(tǒng)能夠用在平滑或彎曲的平面上。
測針還能夠反方向底部測量。
泰勒原廠銷售Surtronic S-116小型粗糙度儀技術規(guī)格:
測量范圍:200 um 100 um 10 um
分辨率: 100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm
重復精度 (Ra) :1%測試值+底噪
傳感器原:電感
測量力:150-300mg
測針針尖半徑:標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測試參數(shù):
三個取樣長度:0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個濾波器:2CR、Gaussian
評定長度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
zui大行程:17.5mm
執(zhí)行標準:ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標準可以測量12個參數(shù): Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標準可以測量11個參數(shù):Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標準可以測量14個參數(shù):Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc