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英國(guó)易高針孔和孔隙檢測(cè)方法介紹
針孔和孔隙檢測(cè)
基體的過(guò)早腐蝕通常是由涂層被破壞所 造成的。引起涂層破壞的一個(gè)主要原因 是已覆蓋的涂層存在一些缺陷。其中一 個(gè)主要的缺陷類(lèi)型是涂層孔隙,如下所 列: 流走和流掛:濕涂層在重力作用下流動(dòng) ,留下薄層干膜。 疵點(diǎn):涂層不會(huì)重新流動(dòng)而覆蓋氣泡從 涂層表面逸出時(shí)所留下的空隙。 縮孔:基體潮濕或涂層流動(dòng)性差而產(chǎn)生 的空隙。 針孔:空氣逸出表面或本該清除的殘留 微粒(如灰塵、沙粒等)造成。 涂層過(guò)厚:當(dāng)基體上涂有過(guò)多涂層時(shí), 涂層干燥后由于涂層內(nèi)力作用會(huì)使涂層 產(chǎn)生裂紋。 涂層不足:沒(méi)有涂上涂層的地方或涂層 從特殊邊緣、基體角落及焊縫流走。甚 至, 在粗糙的表面上,涂層不足會(huì)造成表面 波峰暴露。 所以要考慮到維修成本及相應(yīng)的生產(chǎn)損 失。對(duì)涂層的早期檢測(cè)可以防止涂層破 壞而引起的不便及昂貴的修理費(fèi)用。用 于檢測(cè)涂層缺陷的儀器可參照許多不同 的稱(chēng)謂,包括電火花或JEEP檢測(cè)儀、孔 隙或空隙探測(cè)器和針孔檢測(cè)器。
有兩種檢測(cè)方法:
濕海綿測(cè)試技術(shù) :
適合探測(cè)導(dǎo)電基體上500µm(20mils)以 內(nèi)的絕緣涂層內(nèi)的針孔。濕海綿測(cè)試技 術(shù),適用于粉末涂層和較薄涂層的檢測(cè) 。 用濕潤(rùn)劑潤(rùn)濕海綿,加上低電壓,海綿 在涂層上移動(dòng),遇到缺陷時(shí),液體會(huì)滲 入基體,形成一個(gè)完整的電流回路,電 流通過(guò)檢測(cè)器會(huì)發(fā)出警報(bào)聲。 這種技術(shù)會(huì)識(shí)別基體未被覆蓋的各種涂 層缺陷,如疵點(diǎn)、縮孔、針孔、涂層過(guò) 厚、涂層不足等。
高壓測(cè)試技術(shù):
查找出導(dǎo)電基體上絕緣涂層的所有缺陷 。高壓測(cè)試技術(shù)可用于測(cè)試厚度至7 mm(275mils)涂層缺陷。適用于檢測(cè)管 道和其它保護(hù)性涂層的缺陷。該方法也 同樣適用于混凝土涂層。 儀器產(chǎn)生直流高壓施加到合適的探頭上 ,基體接地,當(dāng)探頭通過(guò)涂層表面時(shí), 缺陷點(diǎn)會(huì)以電火花顯示,儀器發(fā)出警報(bào) 聲。 該技術(shù)適用于確定上述所有缺陷,但是 在薄涂層一定要小心使用。(文章來(lái)自易高,侵刪)